SNJ54BCT8374AFK

Texas Instruments

Producto No:

SNJ54BCT8374AFK

Fabricante:

Paquete:

28-LCCC (11.43x11.43)

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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T

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Operating Temperature	-55°C ~ 125°C
Series	54BCT
Package / Case	28-CLCC
Logic Type	Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
Mfr	Texas Instruments
Supply Voltage	4.5V ~ 5.5V
Number of Bits	8
Package	Tube
Mounting Type	Surface Mount
Product Status	Active
Supplier Device Package	28-LCCC (11.43x11.43)